仪器简介： XTD-200是z用于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。 该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。 被用于各类产品的量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 技术参数： 1.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U） 2 厚度较低检出限：0.005μm 3. 较小测量直径0.2mm（较小测量面积0.03mm2） 4. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U） 5..成分较低检出限：1ppm 检测78种元素镀层·0.005um检出限·较小测量面积0.002m㎡·较深凹糟可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精密0.005mm，速度10-30mm(X-Y)/圈，较小再多的样品都没难度，让操作人员轻松自如。
z业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强应、散射背景等多元化迭代开发出EFP核心算法， 单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等 多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等 合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等 合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。 重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。 如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一层Ni和三层Ni的厚度均可测量。 测量面积：较小0.04mm2 镀层分析：23层镀层24种元素 仪器特点：可手动变焦 仪器势：同元素不同层分析
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